강원대학교 공동실험실습관
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Field Emission Scanning Electron Microscope-I
전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM)-I
  • 호실
    미래관 111호
  • 제조사(모델)
    Hitachi (Hitachi S-4800)
  • 도입일자
    2010-08-10
  • 담당자
    임준기  lmjd93@kangwon.ac.kr
  • 연락처
    033-250-7129
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  • For samples that require coating, please reserve a specimen coating machine as well.
 
원리 및 특성

■ 기기의 특성
  고전압은 물론 저전압(수kv)에서 고분해능이 가능하도록 설계가 된 기기로써 기존의 장비로 관찰이 어려웠던 polymer, bio물질, nanotube, nanoparticle등등을 시편에 손상을 거의 주지 않고 고배율 image 관찰이 가능하고 더불어  정성, 정량, mapping등의 EDS분석이 wide detector장착으로 빠른 기기이다.

 

규격

■기기의 성능
 Ultra High Resolution Scanning Electron Microscope(UHR-SEM) 
   제작사: Hitachi 모델:S-4800, 생산국: JAPAN
 ㆍResolution : 1.0nm(15kv), 1.4nm(1kv)
 ㆍAcc. voltage:  ∼30KV
 ㆍMagnification:  ∼X800,000

 Energy Dispersive X-Ray Spectrometer(EDS)
 ㆍQuantitative analysis
 ㆍQualitative analysis
 ㆍX-Ray Mapping
 ㆍLine profile

적용(응용)분야

■ 기기의 활용분야
  거의 모든 분야의 image 관찰이 가능하며 동시에 성분분석이 가능하다.
  (단 액체, 기체분석불가)

사용료

1. "교내이용자"란 강원대학교 소속 교수, 직원, 강사, 학생을 말한다.
2. "교외이용자"란 교내이용자 이외의 자를 말한다.

구분 항목 단위 교외교내 비고
분석의뢰
사용시간 30분 29,00019,000 교외 직접사용 불가
Grid 제작 9,0009,000
직접사용
직접사용 30분 14,000


관련자료


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