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시간분해 정상상태 형광발광분광 시스템(FLS) (Lifetime & steady state fluoroscence spectrometer system)
모델FLS 920
분석실무기재료분석팀 물성분석기기실 호수미래관 207-2호
담당자박준호 전화번호033-250-7143
전자분광분석기(XPS) (XPS)
모델K Alpha+
분석실무기재료분석팀 물성분석기기실 호수미래관 105호
담당자박준호 전화번호033-250-7143
X선형광분석기(XRF) (X-ray Fluorescence Spectrometry)
모델모델명: ZSX Primus II 규격: - 4kW Power (60kV, 150mA) - 상면 조사형 - Micro Mapping 기능 - Auto sample changer - 정량, 반정량 분석기능 - 박막 분석 기능
분석실무기재료분석팀 물성분석기기실 호수미래관 108-1호
담당자송병윤 전화번호033-250-7133
시편제작기(XRF) (Sample Preparation System for XRF)
모델
분석실무기재료분석팀 물성분석기기실 호수공동실험실습관 108-1
담당자송병윤 전화번호033-250-7133
감마핵종분석기(GCW3523) (HPGe Gamma Spectrometer(GCW3523))
모델Canberra
Coaxial HPGe Detector with Ultra Low Background Cryostat
Germanium Well Detector with Ultra Low Background Cryostat
분석실무기재료분석팀 물성분석기기실 호수미래관202호
담당자송병윤 전화번호033-250-7133
고분해능주사전자현미경(UHR-SEM) (Ultra High Resolution Scanning Electron Microscope)
모델Hitachi S-4800
분석실무기재료분석팀 현미경실 호수미래관 111호
담당자손경덕 전화번호033-250-7129
열분석기(TAS) (Thermal Analysis system)
모델DSC Q2000/SDT Q600
분석실무기재료분석팀 현미경실 호수미래관 104-1호
담당자손경덕 전화번호033-250-7129
전계방사형 주사전자현미경(FESEM) (Field Emission Scanning Electron Microscope)
모델S-4300/HITACHI
분석실무기재료분석팀 현미경실 호수미래관 111호
담당자박용익 전화번호033-250-7130
원자현미경(SPM) (Scanning Probe Microscope)
모델nanoscope 5, multimode 8
분석실무기재료분석팀 현미경실 호수미래관 001호
담당자박용익 전화번호033-250-7130
박막 두께 측정기 (Thin Film Thickness measuring Instrument (Alpha- step))
모델alpha step - IQ
분석실무기재료분석팀 현미경실 호수미래관 101호
담당자손경덕 전화번호033-250-7129
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